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通过特殊光学透镜形成平行光源
适合光洁平面反光物体缺陷检测
芯片和硅晶片的破损检测
Mark点定位
金属、玻璃等高反光表面缺陷检测
反光产品激光打标字符、二维码识别
准直同轴光源具有更好的准直性能,对于玻璃、液晶、高反光平整物体表面的细微缺陷、划痕检测效果明显。
(单位:mm)